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基于FPGA的高速高精度頻率測量的研究
摘要：以FPGA為核心的高速高精度的頻率測量，不同于常用測頻法和測周期法。本文介紹的測頻方法，不僅消除了直接測頻方法中對測量頻率需要采用分段測試的局際，而且在整個測試頻段內(nèi)能夠保持高精度不變。又由于采用FPGA芯片來實現(xiàn)頻率測量，因而具有高集成度、高速和高可靠性的特點。關(guān)鍵詞：頻率 測量 FPGA 高精度
引言
在電子測量技術(shù)中，測頻是最基本的測量之一。常用的直接測頻方法在實用中有較大的局限性，其測量精度隨著被測信號頻率的下降而降低，并且對被測信號的計數(shù)要產(chǎn)生±1個數(shù)字誤差。采用等精度頻率測量方法具有測量精度，測量精度保持恒定，不隨所測信號的變化而變化；并且結(jié)合現(xiàn)場可編程門陣列FPGA（Field Programmable Gate Array）具有集成度高、高速和高可靠性的特點，使頻率的測頻范圍可達到0.1Hz～100MHz，測頻全域相對誤差恒為1/1 000 000，
1 測頻原理及誤差分析
常用的直接測頻方法主要有測頻法和測周期法兩種。(范文先生網(wǎng)www.qkfawen.com收集整理)測頻法就是在確定的閘門時間Tw內(nèi)，記錄被測信號的變化周期數(shù)（或脈沖個數(shù)）Nx，則被測信號的頻率為：fx=Nx/Tw。測周期法需要有標準信號的頻率fs，在待測信號的一個周期Tx內(nèi)，記錄標準頻率的周期數(shù)Ns，則被測信號的頻率為：fx=fs/Ns。這兩種方法的計數(shù)值會產(chǎn)生±1個字誤差，并且測試精度與計數(shù)器中記錄的數(shù)值Nx或Ns有關(guān)。為了保證測試精度，一般對于低頻信號采用測周期法；對于高頻信號采用測頻法，因此測試時很不方便，所以人門提出等精度測頻方法。
等精度測頻方法是在直接測頻方法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。它的閘門時間不是固定的值，而是被測信號周期的整數(shù)倍，即與被測信號同步，因此，測除了對被測信號計數(shù)所產(chǎn)生±1個字誤差，并且達到了在整個測試頻段的等精度測量。其測頻原理如圖1所示。
在測量過程中，有兩個計數(shù)器分別對標準信號和被測信號同時計數(shù)。首先給出閘門開啟信號（預(yù)置閘門上升沿），此時計數(shù)器并不開始計數(shù)，而是等到被測信號的上升沿到來時，計數(shù)器才真正開始計數(shù)。然后預(yù)置閘門關(guān)閉信號（下降沿）到時，計數(shù)器并不立即停止計數(shù)，而是等到被測信號的上升沿到來時才結(jié)束計數(shù)，完成一次測量過程。可以看出，實際閘門時間τ與預(yù)置閘門時間τ1并不嚴格相等，但差值不超過被測信號的一個周期。
設(shè)在一次實際閘門時間τ中計數(shù)器對被測信號的計數(shù)值為Nx，對標準信號的計數(shù)值為Ns。標準信號的頻率為fs，則被測信號的頻率為
由式（1）可知，若忽略標頻fs的誤差，則等精度測頻可能產(chǎn)生的相對誤差為
δ=(|fxc-fx|/fxe)×100% (2)
其中fxe為被測信號頻率的準確值。
在測量中，由于fx計數(shù)的起停時間都是由該信號的上升測觸發(fā)的，在閘門時間τ內(nèi)對fx的計數(shù)Nx無誤差（τ=NxTx）；對fs的計數(shù)Ns最多相差一個數(shù)的誤差，即|ΔNs|≤1,其測量頻率為
fxe=[Nx/(Ns+ΔNs)]/fs （3）
將式（1）和（3）代入式（2），并整理得：
δ=|ΔNs|/Ns≤1/Ns=1/(τ·fs)
由上式可以看出，測量頻率的相對誤差與被測信號頻率的大小無關(guān)，僅與閘門時間和標準信號頻率有關(guān)，即實現(xiàn)了整個測試頻段的等精度測量。閘門時間越長，標準頻率越高，測頻的相對誤差就越小。標準頻率可由穩(wěn)定度好、精度高的高頻率晶體振蕩器產(chǎn)生，在保證測量精度不變的前提下，提高標準信號頻率，可使閘門時間縮短，即提高測試速度。表1所列為標頻在10MHz時閘門時間與最大允許誤差的對應(yīng)關(guān)系。
表1 閘門時間與精度的關(guān)系
0.1
1 10 -5
10 -6
10 -7
等精度測頻的實現(xiàn)方法可簡化為圖2所示的框圖。CNT1和CNT2是兩個可控計數(shù)器，標準頻率（fs）信號從CNT1的時鐘輸入端CLK輸入；經(jīng)整形后的被測信號（fx）從CNT2的時鐘輸入端CLK輸入。每個計數(shù)器中的CEN輸入端為時鐘使能端控制時鐘輸入。當預(yù)置門信號為高電平（預(yù)置時間開始）時，被測信號的上升沿通過D觸發(fā)器的輸出端，同時啟動兩個計數(shù)器計數(shù)；同樣，當預(yù)置門信號為低電平（預(yù)置時間結(jié)束）時，被測信號的上升沿通過D觸發(fā)器的輸出端，同時關(guān)閉計數(shù)器的計數(shù)。
2 硬件設(shè)計
在快速測量的要求下，要保證較高精度的測頻，必須采用較高的標準頻率信號；而單片機受本身時鐘頻率和若干指令運算的限制，測頻速度較慢，無法滿足高速、高精度的測頻要求。采用高集成度、高速的現(xiàn)場可編程門陣列FPGA為實現(xiàn)高速，高精度的測頻提供了保證。
FPGA是20世紀90年代發(fā)展起來的大規(guī)�？删幊踢壿嬈骷�，隨著EDA（電子設(shè)計自動化）技術(shù)和微電子技術(shù)的進步，F(xiàn)PGA的時鐘延遲可達到ns級，結(jié)合其并行工作方式，在超高速、實時測控方面有非常廣闊的應(yīng)用前景；并且FPGA具有高集成度、高可靠性，幾乎可將整個設(shè)計系統(tǒng)下載于同一芯片中，實現(xiàn)所謂片上系統(tǒng)，從而大大縮小其體積。
整個測頻系統(tǒng)分為多個功能模塊，如信號同步輸入、控制部件、分頻和計數(shù)部件、定時、脈沖寬度測量、數(shù)碼顯示、放大整形和標頻信號等模塊。除數(shù)碼管、放大整形和標頻信號外，其它模塊可集成于FPGA芯片中，并且各邏輯模塊用硬件描述語言HDL來描述其功能，如用VHDL或AHDL來對各功能模塊進行邏輯描述。然后通過EDA開發(fā)平臺，對設(shè)計文件自動地完成邏輯編譯、邏輯化簡、綜合及優(yōu)化、邏輯布局布線、邏輯仿真，最后對FPGA芯片進行編程，以實現(xiàn)系統(tǒng)的設(shè)計要求。
圖3所示為測頻主系統(tǒng)框圖。一片F(xiàn)PGA（EPF10K10LC84）可完成各種測試功能，可利用單片機完成數(shù)據(jù)處理和顯示輸出。在標準頻率信號為60MHz的情況下，其測量精度可達到1.1×10 -8，即能夠顯示近8位有效數(shù)字。其中A0～A7和B0～B7為兩計數(shù)器的計數(shù)值輸出。計數(shù)器是32位二進制計數(shù)器（4個8位計數(shù)值）。單片機通過[R1,R0]數(shù)據(jù)讀出選通端分別從這兩個計數(shù)值輸出端讀出4個8位計數(shù)值，根據(jù)測頻和測脈寬原理公式計算出頻和脈沖寬度。STR為預(yù)置門啟動輸入；F/T為測頻和測脈寬選擇；CH為自校/測頻選擇；Fa為自校頻率輸入端；Fs為標準頻率信號輸入端；Fx為經(jīng)過放大整形后的被測信號輸入端；END為計數(shù)結(jié)束狀態(tài)信號。
FPGA中各功能模塊如圖4所示。
圖4中，CH1和CH2為選擇器，CH1進行自校/測頻選擇，CH2進行測頻和測脈寬選擇。CONTRL1為控制模塊，控制被測信號fx和標頻信號fs的導(dǎo)通，以及兩個計數(shù)器（CONTa和CONTb）的計數(shù)。CONTa和CONTb為32位計數(shù)器，分別以4個8位二進制數(shù)輸出。
圖4 FPGA中各功能模塊
FPGA與單片機AT89C51的接口比較簡單。圖3中的輸入/輸出端與單片機連接：A[7..0]與單片機P2端口相連接；B[7..0]與單片機P0口相連接；其它輸入/輸出端與單片機P3口相連接。
結(jié)語
隨著EDA技術(shù)和FPGA集成度的提高，F(xiàn)PGA不但包括了MCU（微控制器或單片機）特點，并兼有串、并行工作方式和高速、高可靠性以及寬口徑適用性等諸多方面的特點。單片機完成的數(shù)據(jù)處理功能也可集成在FPGA芯片中�；贔PGA的電子系統(tǒng)設(shè)計僅僅是各種邏輯模塊與IP核的邏輯合成和拼裝。測頻系統(tǒng)的標準信號頻率的提高，可進一步提高測頻的精度或縮短測頻時間。
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